Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy - Surface Roughness-Practical Example

de Sayeed, Md.Abu
État : Neuf
48,21 €
TVA incluse - Livraison GRATUITE
Sayeed, Md.Abu Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy - Surface Roughness-Practical Example
Sayeed, Md.Abu - Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy - Surface Roughness-Practical Example

Ce produit vous plaît ? N'hésitez pas à le dire !

48,21 € dont de TVA
Plus que 1 exemplaire(s) disponible(s) Plus que 1 exemplaire(s) disponible(s)
Livraison : entre jeudi 28 octobre 2021 et lundi 1 novembre 2021
Vente et expédition: Dodax

La description

AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science and nano-technology. The AFM is capable of measuring nanometer scale images of insulating surfaces with thickness as well as measuring three dimensional images of surfaces and studying the topography. It is very suitable for biological system to determine substrate roughness analysis. The chitinous materials that mean microbiological matter are imaged for determining the surface roughness and interaction force of microbial surfaces by AFM.

Contributeurs

Écrivain:
Sayeed, Md.Abu
Ferdous, Zakia

Détails du produit

Biographie:
Md.Abu Sayeed has completed his Bachelor of science in Electrical & Electronic Engineering from Khulna University of Engineering & Technology,Bangladesh.
Langues:
Anglais
Nombre de pages:
72
Type de média:
Souple
Éditeur:
LAP Lambert Academic Publishing

Données de base

Type d'produit:
Livre de poche
Date de publication:
9 février 2012
Dimensions du colis:
0.218 x 0.15 x 0.006 m; 0.101 kg
GTIN:
09783848400355
DUIN:
ETA6CMLIO9Q
48,21 €
Nous avons recours aux cookies sur notre site internet afin de rendre votre visite plus agréable et ergonomique. Nous vous invitons ainsi à cliquer sur "Accepter les cookies" ! De plus amples informations sont disponibles dans notreDéclaration de protection des données.